12月7日至8日，2021年“1+X”集成電路開發(fā)與測試職業(yè)技能等級考試在我校順利開考，醫(yī)學技術(shù)系共40名學生參加考試。

考核由理論考試和技能操作兩個板塊組成，理論考試分為理論知識考試和虛擬仿真考試，技能操作分為測試實操和應用實操，充分考核學生的晶圓制程、晶圓測試、集成電路封裝、集成電路測試、集成電路相關(guān)知識及技能。考試合格將獲得由杭州朗迅科技有限公司頒發(fā)的集成電路開發(fā)與測試職業(yè)技能等級證書。

學校領導對此項工作高度重視，繼續(xù)教育學院聯(lián)合醫(yī)學技術(shù)系成立工作小組，嚴格按照“1+X”證書制度考核管理部署各項工作，并基于集成電路開發(fā)與測試中級職業(yè)技能標準對應的職業(yè)技能要求，對學生進行理論和實操培訓?？荚嚻陂g，校長許能鋒親自到考場視察工作，全體考務人員嚴格按照考試規(guī)程對學生進行考核，考場井然有序，考風考紀良好，圓滿完成了“1+X”集成電路開發(fā)與測試職業(yè)技能等級考試工作。

本次“1+X”集成電路開發(fā)與測試職業(yè)技能等級考試工作的順利完成，進一步促進了集成電路開發(fā)與測試證書標準與學習內(nèi)容的融合，有利于學生扎實掌握集成電路相關(guān)技能，切實提高就業(yè)能力。

(繼續(xù)教育學院、醫(yī)學技術(shù)系)